职责描述：
1. 研究、开发新的产品可靠性测试方法及制定先进工艺的可靠性评估方案；
2. 研究和改善产品的可靠性水平；
3. 研究先进NOR制程中新的产品可靠性失效机理；
4. 执行产品可靠性验证、评估和监控，评估工程变更和工程异常带来的可靠性风险；
5. 与后段封装厂对接，指导产品环境测试的评估和监控；任职要求：
1. 学历：本科及以上学历；
2. 专业：微电子、物理、半导体、集成电路、电子信息、通信、计算机等相关专业；
3. 专业技能：具备较强的器件物理及非挥发存储器的基础知识；熟悉NOR或者NAND Flash特性，具备良好的电子电路基础知识，熟悉C/C++/Python编程。对FT和Burn-in测试或环境测试有一定了解更佳；
4. 语言能力：流利的英文书写和沟通能力；
5. 熟悉JEDEC/AEC 可靠性相关测试标准； 年龄要求：23岁以上
职能类别：失效分析工程师(FA) 关键字：集成电路可靠性测试flash测试标准可靠性验证可靠性Burn-in测试JEDECft电子电路